一、芯片三輪測試儀介紹：
UHIC三輪測試儀根據Master 卡CQM項目對卡進行三輪測試，適用于對識別卡、帶觸點的集成電路卡進行三輪往復循環(huán)測試，將芯片卡放在機器測試滾輪之間，將芯片在三個鋼制滾輪間循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，并在芯片上加一個8N的力，經過往復循環(huán)測試后驗證ICC觸點芯片功能是否正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進行CQM標準的測試。
二、主要技術參數(shù)：
1、三輪測試儀型號：UHICC
2、測試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
3、測試標準參考: Mcd
4、CQM測試標準參考: P-22
5、測試方法參考: 10.3.22
6、CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
7、電源: 110-220 V 50/60 Hz.
8、測試廠家：
